Главная \ Образование \ Химический институт им. А. М. Бутлерова \ Центр довузовской подготовки, повышения квалификации и маркетинга \ Структура центра \ Курсы повышения квалификации

Атомно-эмиссионная спектроскопия

ПРОГРАММА КУРСА

Лекционный курс

Тема 1. Основы метода. Классификация спектральных методов анализа. Атомно-эмиссионная спектрометрия, источники атомизации и возбуждения. Понятие плазмы, способы генерации. Интенсивность спектральной линии.

Тема 2. Конструкция спектрометра, основные узлы. Принципиальная схема спектрометра. Система ввода образца. Оптические схемы спектрометров. Детекторы.

Тема 3. Объекты анализа и условия пробоподготовки. Объекты анализа. Агрегатное сотояние образца. Классификация методов пробоподготовки. Кислотное разложение в открытых и закрытых системах. Сплавление/спекание. Специальные методы разложения. Методы разделения и концентрирования на стадии пробоподготовки.

Тема 4. Качественный и количественный анализ. Качественный анализ. Таблицы Зайделя. Полуколичественный анализ. Оптимизация условий измерения аналитического сигнала. Характеристики чувствительности. Методы количественного анализа. Метод построения градуировочной зависимости. Метод стандартных добавок.

Тема 5. Мешающие влияния и методы их устранения. Классификация мешающих влияний. Физические влияния. Химические влияния. Спектральные влияниям Методы устранения. Метод внутреннего стандарта. Метод корректирующих стандартов.

Лабораторный практикум

Обучение основам работы на спектрометре атомно-эмиссионный с микроволновой плазмой Agilent 4100 MP-AES.

Источник информации: Центр довузовской подготовки, повышения квалификации и маркетинга ХИимБ

Ключевые слова: Химический институт им. А. М. Бутлерова, Центр довузовской подготовки, ЦДО, АЭС