Область применения 

1. Спектроскопические и зондовые исследования фотонных материалов, тонких пленок, материалов квантовой электроники и полупроводникового производства; 2. Спектроскопия одной молекулы; 3. Оптические исследования субволновых объектов; 4. Электросиловая и оптическая литография.

Определяемые показатели 

2D/3D конфокальное оптическое изображение, спектры комбинационного рассеяния и флуоресценции,топография, фазовый констраст, туннельный ток, поверхностный потенциал, намагниченность, твердость, упругость.

Объекты исследования 

Тонкие пленки, наночастицы, фотонные материалы, метаматериалы.

Дополнительные возможности 

Зондом усиленная спектроскопия и микроскопия

Контакты 

Харинцев Сергей Сергеевич , телефон: 2337741, e-mail: Sergey.Kharintsev@kpfu.ru