KFU. Card publication. Свидетельство на программу для ЭВМ 2024691623 Российская Федерация, Инструменты линеаментного анализа / А.В. Старовойтов, В.Е. Косарев, Файзуллин Д.А., Лукиянов В.Н. - № 2024690688; заявл. 16.11.2024 ; опубл. 23.11.2024.

- RUS
- 中文
- ES

СВИДЕТЕЛЬСТВО НА ПРОГРАММУ ДЛЯ ЭВМ 2024691623 РОССИЙСКАЯ ФЕДЕРАЦИЯ, ИНСТРУМЕНТЫ ЛИНЕАМЕНТНОГО АНАЛИЗА / А.В. СТАРОВОЙТОВ, В.Е. КОСАРЕВ, ФАЙЗУЛЛИН Д.А., ЛУКИЯНОВ В.Н. - № 2024690688; ЗАЯВЛ. 16.11.2024 ; ОПУБЛ. 23.11.2024.

Form of presentation

ECM programs, databases, integrated circuit topographies

Year of publication

2025

Язык

русский

Authors, employees of KFU

Starovoytov Aleksandr Vladimirovich, author

Bibliographic description in the original language

Svidetelstvo na programmu dlya EVM 2024691623 Rossiyskaya Federaciya, Instrumenty lineamentnogo analiza / A.V. Starovoytov, V.E. Kosarev, Fayzullin D.A., Lukiyanov V.N. - № 2024690688; zayavl. 16.11.2024 ; opubl. 23.11.2024.

Please use this ID to quote from or refer to the card

https://repository.kpfu.ru/eng/?p_id=310050&p_lang=2

Resource files

File name	Size (MB)	Format
F_2024691623_Starovojtov_A.V._Instrumenty_lineamentnogo_analiza.pdf	0,93	pdf	show / download

Full metadata record

Field DC	Value	Language
dc.contributor.author	Starovoytov Aleksandr Vladimirovich	ru_RU
dc.date.accessioned	2025-01-01T00:00:00Z	ru_RU
dc.date.available	2025-01-01T00:00:00Z	ru_RU
dc.date.issued	2025	ru_RU
dc.identifier.citation	Свидетельство на программу для ЭВМ 2024691623 Российская Федерация, Инструменты линеаментного анализа / А.В. Старовойтов, В.Е. Косарев, Файзуллин Д.А., Лукиянов В.Н. - № 2024690688; заявл. 16.11.2024 ; опубл. 23.11.2024.	ru_RU
dc.identifier.uri	https://repository.kpfu.ru/eng/?p_id=310050&p_lang=2	ru_RU
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.title	Свидетельство на программу для ЭВМ 2024691623 Российская Федерация, Инструменты линеаментного анализа / А.В. Старовойтов, В.Е. Косарев, Файзуллин Д.А., Лукиянов В.Н. - № 2024690688; заявл. 16.11.2024 ; опубл. 23.11.2024.	ru_RU
dc.type	ECM programs, databases, integrated circuit topographies	ru_RU