Form of presentation | ECM programs, databases, integrated circuit topographies |
Year of publication | 2023 |
Язык | русский |
|
Buyvol Polina Aleksandrovna, author
Makarova Irina Viktorovna, author
Mukhametdinov Eduard Mukhamatzakievich, author
|
|
Krivonogova Alla Evgenevna, author
|
Bibliographic description in the original language |
Svidetelstvo o registracii programmy dlya EVM 2023619542 ot 12.05.2023. Programma dlya analiza dannykh o sovmestnykh otkazakh avtomobilnoy tekhniki. Zayavka № 2023618522 ot 02.05.2023.; Voroshilov A.I.. Krivonogova A.E., Buyvol P.A., Makarova I.V., Mukhametdinov E.M.; zayavitel FGAOU VO KFU |
Keywords |
отказы, автомобиль |
Please use this ID to quote from or refer to the card |
https://repository.kpfu.ru/eng/?p_id=293051&p_lang=2 |
Full metadata record |
Field DC |
Value |
Language |
dc.contributor.author |
Buyvol Polina Aleksandrovna |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Makarova Irina Viktorovna |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Mukhametdinov Eduard Mukhamatzakievich |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Krivonogova Alla Evgenevna |
ru_RU |
dc.date.accessioned |
2023-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
dc.date.available |
2023-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
dc.date.issued |
2023 |
ru_RU |
dc.identifier.citation |
Свидетельство о регистрации программы для ЭВМ 2023619542 от 12.05.2023. Программа для анализа данных о совместных отказах автомобильной техники. Заявка № 2023618522 от 02.05.2023.; Ворошилов А.И.. Кривоногова А.Е., Буйвол П.А., Макарова И.В., Мухаметдинов Э.М.; заявитель ФГАОУ ВО КФУ |
ru_RU |
dc.identifier.uri |
https://repository.kpfu.ru/eng/?p_id=293051&p_lang=2 |
ru_RU |
dc.language.iso |
ru |
ru_RU |
dc.subject |
отказы |
ru_RU |
dc.subject |
автомобиль |
ru_RU |
dc.title |
Свидетельство о регистрации программы для ЭВМ 2023619542 от 12.05.2023. Программа для анализа данных о совместных отказах автомобильной техники. Заявка № 2023618522 от 02.05.2023.; Ворошилов А.И.. Кривоногова А.Е., Буйвол П.А., Макарова И.В., Мухаметдинов Э.М.; заявитель ФГАОУ ВО КФУ |
ru_RU |
dc.type |
ECM programs, databases, integrated circuit topographies |
ru_RU |
|