| Form of presentation | Conference proceedings in Russian journals and collections |
| Year of publication | 2020 |
| Язык | русский |
|
Mosin Sergey Gennadevich, author
|
| Bibliographic description in the original language |
Poisk racionalnoy struktury testovogo generatora dlya podsistem vstroennogo samotestirovaniya cifrovykh skhem [Text] / N.V. Bykhanova, S.G. Mosin // Problemy razrabotki perspektivnykh mikro- i nanoelektronnykh sistem (MES). – 2020. – № 1. – S. 89-94. |
| Annotation |
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) |
| Keywords |
встроенное самотестирование, тестовый генератор, LFSR, покрытие неисправностей |
| The name of the journal |
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС)
|
| URL |
https://doi.org/10.31114/2078-7707-2020-1-89-94 |
| Please use this ID to quote from or refer to the card |
https://repository.kpfu.ru/eng/?p_id=242055&p_lang=2 |
Full metadata record  |
| Field DC |
Value |
Language |
| dc.contributor.author |
Mosin Sergey Gennadevich |
ru_RU |
| dc.date.accessioned |
2020-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
| dc.date.available |
2020-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
| dc.date.issued |
2020 |
ru_RU |
| dc.identifier.citation |
Поиск рациональной структуры тестового генератора для подсистем встроенного самотестирования цифровых схем [Text] / Н.В. Быханова, С.Г. Мосин // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). – 2020. – № 1. – С. 89-94. |
ru_RU |
| dc.identifier.uri |
https://repository.kpfu.ru/eng/?p_id=242055&p_lang=2 |
ru_RU |
| dc.description.abstract |
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) |
ru_RU |
| dc.description.abstract |
Предложен способ поиска рациональной структуры тестового генератора, входящего в состав подсистем встроенного самотестирования цифровых схем. Решение направлено на минимизацию аппаратных и временных затрат и автоматизацию процесса формирования тестового генератора. В его основе лежит поиск баланса между двумя способами тестирования: псевдослучайным и детерминированным. Представлены результаты экспериментальных исследований. |
ru_RU |
| dc.language.iso |
ru |
ru_RU |
| dc.subject |
встроенное самотестирование |
ru_RU |
| dc.subject |
тестовый генератор |
ru_RU |
| dc.subject |
LFSR |
ru_RU |
| dc.subject |
покрытие неисправностей |
ru_RU |
| dc.title |
Поиск рациональной структуры тестового генератора для подсистем встроенного самотестирования цифровых схем |
ru_RU |
| dc.type |
Conference proceedings in Russian journals and collections |
ru_RU |
|
RUS 
中文 
ES 
Sitemap
