Form of presentation | Articles in Russian journals and collections |
Year of publication | 2019 |
Язык | русский |
|
Vorobev Vyacheslav Valerevich, author
Osin Yuriy Nikolaevich, author
Rogov Aleksey Mikhaylovich, author
Stepanov Andrey Lvovich, author
|
|
Valeev V F, author
Ermakov M A, author
Nuzhdin V I, author
Tabachkova N Yu, author
Eydelman K B, author
|
|
Vorobev Vyacheslav Valerevich, postgraduate kfu
|
Bibliographic description in the original language |
Vorobev V.V., Rogov A.M., Osin Yu.N., Nuzhdin V.I., Valeev V.F., Eydelman K.B., Tabachkova N.Yu., Ermakov M.A., Stepanov A.L., Mikroskopiya poverkhnosti kremniya, implantirovannogo ionami serebra vysokimi dozami // Zhurnal tekhnicheskoy fiziki, 2019, tom 89, vyp. 2, S 226-234, DOI: 10.21883/JTF.2019.02.47075.145-18 |
Annotation |
Микроскопия поверхности кремния |
Keywords |
Микроскопия, поверхность кремния, ионы серебра |
The name of the journal |
Журнал технической физики
|
Please use this ID to quote from or refer to the card |
https://repository.kpfu.ru/eng/?p_id=194910&p_lang=2 |
Resource files | |
|
Full metadata record |
Field DC |
Value |
Language |
dc.contributor.author |
Vorobev Vyacheslav Valerevich |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Osin Yuriy Nikolaevich |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Rogov Aleksey Mikhaylovich |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Stepanov Andrey Lvovich |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Valeev V F |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Ermakov M A |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Nuzhdin V I |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Tabachkova N Yu |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Eydelman K B |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Vorobev Vyacheslav Valerevich |
ru_RU |
dc.date.accessioned |
2019-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
dc.date.available |
2019-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
dc.date.issued |
2019 |
ru_RU |
dc.identifier.citation |
Воробьев В.В., Рогов А.М., Осин Ю.Н., Нуждин В.И., Валеев В.Ф., Эйдельман К.Б., Табачкова Н.Ю., Ермаков М.А., Степанов А.Л., Микроскопия поверхности кремния, имплантированного ионами серебра высокими дозами // Журнал технической физики, 2019, том 89, вып. 2, С 226-234, DOI: 10.21883/JTF.2019.02.47075.145-18 |
ru_RU |
dc.identifier.uri |
https://repository.kpfu.ru/eng/?p_id=194910&p_lang=2 |
ru_RU |
dc.description.abstract |
Журнал технической физики |
ru_RU |
dc.description.abstract |
Микроскопия поверхности кремния |
ru_RU |
dc.language.iso |
ru |
ru_RU |
dc.subject |
Микроскопия |
ru_RU |
dc.subject |
поверхность кремния |
ru_RU |
dc.subject |
ионы серебра |
ru_RU |
dc.title |
Микроскопия поверхности кремния, имплантированного ионами серебра высокими дозами |
ru_RU |
dc.type |
Articles in Russian journals and collections |
ru_RU |
|