Form of presentation | Conference proceedings in Russian journals and collections |
Year of publication | 2017 |
Язык | русский |
|
Vorobev Vyacheslav Valerevich, author
Evtyugin Vladimir Gennadevich, author
Morozova Anna Sergeevna, author
Osin Yuriy Nikolaevich, author
Rogov Aleksey Mikhaylovich, author
Stepanov Andrey Lvovich, author
|
|
Nuzhdin V. I., author
|
Bibliographic description in the original language |
Morozova A.S. Mikroskopiya periodicheski - strukturirovannykh sloev sformirovannykh ionnoy implantaciey / A.S. Morozova, A.M. Rogov, V.V. Vorobev, V.G. Evtyugin, Yu.N. Osin, V.I. Nuzhdin, V.F. Valeev, A.L. Stepanov// Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference. - 2017. - s. 112 - 113 |
Annotation |
Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference |
Keywords |
Атомно-силовая микроскопия, сканирующая электронная микроскопия, пористые полупроводниковые материалы, ионная имплатнация |
The name of the journal |
Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference
|
URL |
https://nanocenter.urfu.ru/sites/default/files/%21SPM-2017%20Abstract%20book.pdf |
Please use this ID to quote from or refer to the card |
https://repository.kpfu.ru/eng/?p_id=162738&p_lang=2 |
Full metadata record |
Field DC |
Value |
Language |
dc.contributor.author |
Vorobev Vyacheslav Valerevich |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Evtyugin Vladimir Gennadevich |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Morozova Anna Sergeevna |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Osin Yuriy Nikolaevich |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Rogov Aleksey Mikhaylovich |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Stepanov Andrey Lvovich |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Nuzhdin V. I. |
ru_RU |
dc.date.accessioned |
2017-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
dc.date.available |
2017-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
dc.date.issued |
2017 |
ru_RU |
dc.identifier.citation |
Морозова А.С. Микроскопия периодически - структурированных слоев сформированных ионной имплантацией / А.С. Морозова, А.М. Рогов, В.В. Воробьев, В.Г. Евтюгин, Ю.Н. Осин, В.И. Нуждин, В.Ф. Валеев, А.Л. Степанов// Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference. - 2017. - с. 112 - 113 |
ru_RU |
dc.identifier.uri |
https://repository.kpfu.ru/eng/?p_id=162738&p_lang=2 |
ru_RU |
dc.description.abstract |
Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference |
ru_RU |
dc.description.abstract |
Описан способ получения структурированного композиционного материала на подложке из халькогенидного стекла (GeSe) при имплантации ионами Ag+. Методами СЗМ и СЭМ показано, что в результате на поверхности GeSe образуется дифракционная решетка с периодом ~ 25 мкм и высотой ступенек ~ 170-200 нм. |
ru_RU |
dc.language.iso |
ru |
ru_RU |
dc.subject |
Атомно-силовая микроскопия |
ru_RU |
dc.subject |
сканирующая электронная микроскопия |
ru_RU |
dc.subject |
пористые полупроводниковые материалы |
ru_RU |
dc.subject |
ионная имплатнация |
ru_RU |
dc.title |
Микроскопия периодически - структурированных слоев сформированных ионной имплантацией |
ru_RU |
dc.type |
Conference proceedings in Russian journals and collections |
ru_RU |
|