Гамма-резонансный микроскопический анализ образцов:

- фазовый анализ пробы, содержащей мессбауэровские элементы (Fe, Sn,  Eu);

- определение валентного состояния этих элементов, конфигурации заполнения электронных оболочек (низко- и высоко-спиновые состояния);

- определение симметрии локального окружения резонансных атомов, значения градиентов электрических полей  и его ориентации;

- измерение температуры Дебая и силовых констант, определяющих фононный спектр исследуемой фазы;

- определение типа связи между резонансным атомом и лигандами (ионная, ковалентная, металлическая);

- определение критической температуры (температура Кюри, Нееля) и магнитного момента резонансного атома, типа магнитного упорядочения в магнитно-упорядоченных фазах;

- исследование релаксационных свойств мелкодисперсных рентгеноаморфных частиц, восстановление распределения частиц по размерам, определение температуры блокировки;

- мессбауэровские исследования в низко- (2-295 К) и высокотемпературной области (300-1000 K);

- высокотемпературные  мессбауэровские измерения образцов в контролируемой атмосфере (химические реакции, катализ и др.);

- гамма-резонансные исследования при высоких давлениях (до 35 ГПа);

- мессбауэровские исследования в сильных магнитных полях (до 60 кЭ);

- проведение мессбауэровских измерений на электронах конверсии поверхностных слоев (в том числе селективных по глубине);

- низкотемпературные измерения методом мессбауэровской спектроскопии конверсионных электронов (90-295 К).